Vision/Algorithm 기술을 기반으로 Micro Display의 외관 불량을 자동 검사하는 장비
수동 목시검사 대비 수율/품질 제고, 불량 Data 관리, 검사 인력 최소화 강점
| Mobile | XR(VR/AR/MR) | |
|---|---|---|
| Module | Module | |
| Rigid | ○ | ○ |
Display 장치에서 화면의 밝기와 색상을 조정하기 위해 신호기, 색차계를 이용한 입력 신호와 출력된 이미지 간의 비선형 관계를
조정하여 최적의 품질개선을 위한 적용
Display장치에서 화면의 특정 영역이 다른 부분보다 밝거나 어둡게 나타나는 불균일한 화면 밝기를 보상하여
최적의 품질개선을 위한 적용
공정별 보정 이후 Display장치의 광학특성 품질 평가를 통한 공정의 신뢰성 및 효율성을 높임.
Wafer 상태에서 Micro Display chip 전수 검사를 통해 Chip의 전기/광학적 특성을 측정 Rank 별로 분류
Chip의 EL특성을 고속으로 검사하여 Micro LED Display의 수율/신뢰성 제고
검사기 전후 설비와 고신뢰성을 기반으로 하는 자동화 시스템
다양한 환경적 Stress 조건을 균일하게 Control하여 제품이 주어진 조건하에서
문제없이 기능을 수행할 수 있는지 신뢰성을 시험하는 장비
Micro Display TEG Cell에 전기/온도 특성을 인가하여 수명 특성을 평가하는 장비
측정 온도 환경에 따라 Option(Peltier/Chamber 등)을 제공
현미경 측정을 통해 수~수십㎛ 크기의 Micro Display의
Electro Luminescence 특성을 분석하는 장비
Micro Display TEG Cell에 전기/온도 특성을 인가한 후(Aging), 광Sensor를 이용하여 Aging 시간별 시료의 신뢰성을 평가하는 장비
Micro Display의 전기적 광학적 특성을 측정, 평가하는 장비
다양한 평가 규격을 기준으로 Display 특성을 평가
| Mobile | Tablet | Notebook | Monitor | TV | DID | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Normal용 | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ |
| Full Auto용 | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ |
가변 전압에 따라 변경된 주파수를 Micro Display에 인가하여 변화되는 Impedance 특성을 측정