ENC TECHNOLOGY

KOR ENG

OLED/LCD

  • 외관검사
  • 자동화
  • 신뢰성 Chamber
  • 품질평가

외관검사

Vision/Algorithm 기술을 기반으로 Display Module 및 Cover Glass의 외관 불량을 자동 검사하는 장비

수동 목시검사 대비 수율/품질 제고, 불량 Data 관리, 검사 인력 최소화 강점

특성

  • 다양한 광학계 적용으로 Top/Side/Bottom검사 및 재검 검사 진행
  • 검사 Program/Algorithm과 제어를 연동시켜 자동 검사 수행
  • 다양한 검사 Stage를 개발하여 Rigid/Flexible형 Module/Cover Glass 검사 대응
  • CIM Program 적용으로 Inline 생산 최적화
  • Model별 Recipe관리로 Job change 시간 단축
  Mobile Watch Tablet Notebook Monitor
  Cover Glass Module Module Module Module Module
Rigid ○ ○ ○
Flexible ○ (UTG) ○ ○ (TBD) (TBD) (TBD)
  • UTG : Ultra Thin Glass

자동화

검사기 전후 설비와 고신뢰성을 기반으로 하는 자동화 시스템

A. Loader/Unloader

  • 검사설비 전후에 설치되어 투입/배출/이송 역할을 하는 장비
  • 전방 설비 물류 연결 및 Pallet 투입 겸용
  • Vision이용 Tray상 Cell 유무 및 적재상태 확인
  • 투입단 Cleaning Option
  • PC/PLC 제어

B. 적재기

  • 검사 후 양품과 불량품을 구별하여 Tray 또는 Cassette에 분리 적재하는 장비
  • OK/NG Tray 분리 적재
  • Vision이용 Tray상 Cell 유무 및 적재상태 확인
  • PC/PLC 제어

C. Buffer 설비

  • 물류 운영에 필요한 Buffer 또는 재투입 역할을 담당하는 장비
  • Vision이용 Tray상 Cell 유무 및 적재상태 확인
  • PC/PLC 제어

신뢰성 Chamber

다양한 환경적 Stress 조건을 균일하게 Control하여 제품이 주어진 조건하에서

문제없이 기능을 수행할 수 있는지 신뢰성을 시험하는 장비

특성

  • 온도 상승/하강 속도 1℃/min
  • 수냉식/공냉식 Option 대응 가능
  • 내부사이즈 및 외관 / 채널수 고객 Option 대응 가능
  • 다양한 측정 환경 Option
  • 항온항습 type : 온도 -40℃~100 ℃(±1.5 ℃), 습도 30~95% (±3%)
  • 저고온 type : -40℃~100 ℃(±1.5 ℃)
  • LTS
  • IVL
  • FPMS
  • Impedance 측정

LTS

LTS ( Life Time measurement System )

다양한 제작단계의 Display에 대해 수명 특성을 측정하는 장비

시료의 제작단계별로 System 구성이 다르며, 측정 온도 환경에 따라 Option(Peltier/Chamber 등)을 제공

특성

  • 다양한 형태의 시료(Test Cell/Cell/Module) 수명 측정 Test
  • Photo Diode/Spectroradiometer를 이용한 광학 측정 및 최적화 평가 Program (광Intensity, 휘도, Spectrum측정)
  • 자체 개발 정밀 Power Module을 이용, Noise를 최소화한 평가 Data 정합성 확보
  • 각 Channel별 독립적인 조건부 Test 가능
  • 다양한 측정 환경 Option
  • Photo Diode type (Chamber) : 상온, 고온(25°C~120°C),
    고/저온(-40°C~120°C)
  • Spectroradiometer type (Peltier) : 상온, 고온(25°C~100°C)
  TEG Cell Cell(Panel) Module
OLED ○ ○ ○
LCD ○ ○ ○
  • TEG(Test Element Group) : Test용 Pattern 구현 Cell
  • TEG Cell은 Photo Diode/Spectrometer Type으로 구분

IVL

IVL ( Intensity of electron flow Voltage Luminance )

시료의 전류/전압과 Luminance의 상관관계를 측정하여
광원의 특성 분석을 자동으로 수행하는 장비

시료의 제작단계, 요구 시야각(WAD)에 따라 System 구성

특성

  • 다양한 형태의 시료(Test Cell/Cell/Module) IVL 측정 Test
  • 광학 측정을 위해 최적화된 휘도계, 구동장치 및 제어 Program 적용
  • 전기적 Noise 최소화로 정확한 전류/전압 Data 측정
  • 분광 Data를 이용하여 시료의 Color특성 및 효율 분석
  • WAD에 따라 시료의 Center Auto Tracking, 다채널 동시 분석
  TEG Cell Cell(Panel) Module
Normal용 ○ ○ ○
WAD용 ○ ○ ○
  • WAD : White Angle Difference(시야각에 따라 정면대비 휘도 및 색 좌표 변화량을 측정/평가)

FPMS

FPMS ( FPD Performance Measurement System )

Display Module의 전기적 광학적 특성을 측정, 평가하는 장비

다양한 평가 규격을 기준으로 Display 특성을 평가

특성

  • 측정항목별 다양한 Detector 대응 가능
    (Spectroradiometer, Photometer 등) 대응 가능
  • 평가 규격별(VESA, TCO, ISO-13406 등) 자동/수동 구동 대응 가능
  • Mobile용부터 100" 이상 초대형 Panel 및 고객 Option 대응 가능

(Full Auto용 Option)

  • 시료 투입, Aging, 측정, 배출을 자동화
  • 측정과 동시에 측정 대기 시료를 사전 Aging
  • Aging Zone+측정 Zone으로 구성되어 제어 (PC/PLC)
  Mobile Tablet Notebook Monitor TV DID
Normal용 ○ ○ ○ ○ ○ ○
Full Auto용 ○ ○ ○ ○ ○ ○
  • Mobile : Watch 포함
  • DID(Digital Information Display)

Impedance
측정

Impedance 측정

가변 전압에 따라 변경된 주파수를 OLED재료에 인가하여 변화되는 Impedance 특성을 측정하는 장비

특성

  • 빠른 Data 취득
  • 정확도와 반복도 높은 정밀 측정
  • 서로 다른 주파수인가를 통한 다양한 분석
  • 평가에 최적화 된 제어 Program